Metoda kontinuálních variací (Jobova metoda) je založena na měření absorbance roztoků kovu (M) a ligandu (L), v nichž je součet celkových analytických koncentrací M a L stálý, tj. c(M) + c(L) = m, ale mění se jejich poměr v závislosti na látkovém zlomku kovu x = c(M)/m. V řadě roztoků se mění x od 0 do 1. Doporučujeme následující postup: Změřením zkušebního vzorku s λc = 0,8 mm určete parametry RSm, Rz a Ra. Posouzení profilu. U jasně rozpoznatelného periodického profilu: vyberte mezní vlnovou délku podle parametru RSm z výše uvedené tabulky. Jinak: zvolte mezní vlnovou délku λc podle Rz a/nebo Ra. Pokud již volba λc = 0 Odraz světla Zákon odrazu světla: Velikost úhlu odrazu se rovná velikosti úhlu dopadu. Odražený paprsek zůstává v rovině dopadu. Úhel odrazu nezávisí na vlnové délce světla. Délka v geometrii[ | editovat zdroj] Délkou úsečky je vzdálenost jejich koncových bodů. Délku křivky lze určit jako limitu délek lomených čar složených z {\displaystyle n} úseků s koncovými body na měřené křivce, když n → ∞ {\displaystyle n\to \infty } a délka každé úsečky lomené čáry se blíží nule . se Elektronová mikroskopie a mikroanalýza – základní pojmy. elektronový mikroskop. transmisní elektronový mikroskop (TEM, HRTEM) elektronový svazek prochází skrz zkoumaný vzorek a výsledný obraz je pozorován na fluorescenčním stínítku. zvětšení až 1 200 000 x. je možné pozorovat jednotlivé atomy a jejich uspořádání v a drsnosti. Celková délka lt je délka pohybu snímače během kterého se snímají úchylky tvaru povrchu. Ta je delší než měřená délka ln (vyhodnocovaná délka) z které se pomocí filtru získá profil drsnosti. S výjimkou parametrů Rt a Rmr(c) jsou všechny parametry drsnosti definovány na základní délce lr. 1) Vlnová délka žlutého světla ve vakuu je 600 nm. Rychlost světla ve vakuu je přibližně 3x10_8. Index lomu je 1,5. Jaká je vlnová délka světla ve skle? 2) O jaký úhel se odkloní světelný paprsek od původního směru, jestliže dopadá na hladinu vodu pod uhlem 30stup. Index lomu vody je n= 1,33. (alfa=8 stupnů) Elektronový mikroskop. Elektronový mikroskop je v principu (elektronovou) obdobou optického (fotonového) mikroskopu . Optické čočky jsou nahrazeny elektromagnetickými čočkami a místo fotonů jsou ke zkoumání objektu použity elektrony. Rozlišovací schopnost a maximální použitelné zvětšení optického mikroskopu jsou omezeny m6Ypn.